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电子元器件高低温冲击测试箱

对各种金属、非金属及复合材料进行环境性能测试和分析研究，广泛用于航天航空、石油化工、机械制造、车辆制造、电线电缆、纺织纤维、塑料橡胶、陶瓷建材、食品、医药包装、金属材料、建筑工程等行业，以及高等院校、科研院所、技术监督、质检站所等部门.



技术参数：

型号	GT-TC-80	GT-TC-150	GT-TC-225	GT-TC-500	GT-TC-800	GT-TC-1000
内箱尺寸（WxHxD）mm	400x500x400	500x600x500	500x750x600	700x800x900	1000x1000x800	1000x1000x1000
温度范围	G：-20℃ ~ +100℃（150℃）；Z：-40℃ ~ +100℃（150℃）；D：-70℃ ~ +100℃（150℃）
结构	三箱式（低温区、高温区、测试区） / 两箱式（低温区、高温区、吊篮）
气门装置	强制的空气装置气门 / 吊篮
内箱材质	镜面不锈钢 SUS 304
外箱材质	雾面拉丝不锈钢板 / 冷轧钢板烤漆
测试架	不锈钢架
冷冻系统	二段式
冷却方式	半密闭式双段压缩机（水冷式）/全封闭式双段压缩机（风冷式）
高温区温度	+60 ℃～ +200 ℃
低温区温度	-10 ℃～ -80 ℃ /-10 ℃～ -70 ℃
高温冲击温度范围	+60 ℃～ +150℃
低温冲击温度范围	-10 ℃～ -55 ℃ /-10 ℃～ -65 ℃
温度均匀度	± 2 ℃
温度波动度	± 1.0 ℃
高温冲击时间	Rt ～ +150 ℃ /5min
低温冲击时间	Rt ～ -55 ℃ /5min       Rt ～ -65 ℃ /5min
预热时间	45min
预冷时间	100min
注：另可根据客户的要求设计客户满意的电子元器件高低温冲击测试箱