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电子产品高低温老化测试实验箱

2020-07-21 14:20:01

电子产品不管是元件,部件,整机,设备,都要进du行老化和测试.老化和测试不是一个概念.先老化后测试.电子产品(所有产品都是这样)通过生产制造后,形成了完整的产品,已经可以发挥使用价值了,但使用以后发现会有这样那样的毛病,又发现这些毛病绝大部分发生开始的几小时至几十小时之内,后来干脆就规定了电子产品的老化和测试,仿照或者等效产品的使用状态,这个过程由产品制造者来完成.通过再测试,把有问题的产品留在工厂,没问题的产品给用户,以保证买给用户的产品是可靠的或者是问题较少的.这就是老化测试的意义.
一:产品规格选型:
产品型号:GT-HB-TS系列
高低温试验箱容积:
80L(500×400×400 )
120L(600×500×400 )
150L (600×500×500 )
225L(750×500×600 )
408L (850×600×800)
800L (1000×1000×800)
1000L (1000×1000×1000 )
1500L(1500×1000×1000 )
(更大或更小尺寸以客户要求定做)
设备图片

  • 温湿度范围:
A温度:  -0℃~150℃(可任意设定)
B温度:  -20℃~150℃(可任意设定)
C温度:  -40℃~150℃(可任意设定)
D温度:  -50℃~150℃(可任意设定)
E温度:  -60℃~150℃(可任意设定)
F温度:  -70℃~150℃(可任意设定)
三、升降温速度:
1. 常温→150℃     约35分钟(非线性空载,约3℃/分钟)
2. 常温→-40℃     约55分钟(非线性空载,约1℃/分钟)


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